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光切法显微镜 9J

型号 : 9J
制造商 : 上海长方
源产地 : 上海浦东新区
更新时间 : 2026-06-03

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仪器用途

光切法显微镜 9J 以光切法测量零件加工表面的微观不平度。其能判别国家标准GB1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度(表面粗糙度)对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。光切法特点是在不破坏表面的情况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。

技术参数

测量范围不平度平均高度值(微米)表面光洁度级别  所需物镜总放大倍数物镜组件工作距离(毫米)视场(毫米)
>0.8~1.6
>1.6~6.3
>6.3~20
>20~80
9
8~7
6~5
4~3
60倍N.A.0.55
30倍N.A.0.40
14倍N.A.0.20
7倍N.A.0.12
510倍
260倍
120倍
60倍
0.04
0.2
2.5
9.5
0.3
0.6
1.3
2.5

仪器成套性

  1. 仪器主体   1台

  2. 测微目镜   1件

  3. 座标工作台 1件

  4. V型块    1件

  5. 标准尺   1件

  6. 7X物镜   1只

  7. 14X物镜    1只

  8. 30X物镜    1只

  9. 60X物镜    1只

  10. 可调变压器     1台

  11. 2.1W/6V灯泡    3个


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