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型号 : PG15-J
制造商 : 上海长方
源产地 : 上海浦东新区
更新时间 : 2026-06-03PG15-J型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。激光平面干涉仪配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。
激光平面干涉仪工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的波动性的特性。
第一标准平面（A面），不镀膜。 工作直径：D1=Φ146mm 不平度小于0.02μm(λ/30)。
第二标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm 不平度小于0.03μm(λ/20)。
准直系统：孔径F/2.8， 工作直径：D1=Φ146mm 焦距：f=400mm.
测微目镜：焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X，视场角2w=40o
成像物镜：I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10 f=16 f=23 f=37
干涉室尺寸：深260*宽300*190mm。
光源规格：激光ZN18（He-Ne），上海玻璃仪器一厂出品。
仪器的外形尺寸：长*宽*高 350*400*720mm。
仪器重量：100公斤。
上海长方光学仪器有限公司
沪公网安备31011502009251号
