智能透射电镜领跑，微束分析新标准密集推进

更新时间：2026-10-16 浏览量：108

导读：显微与微观领域本周热点密集：中国科大以拓扑探针首次实现交错磁体原子尺度自旋成像，中科院智能透射电镜系统通过科技成果鉴定；标准端 TC38 多项在研标准密集推进，核壳颗粒壳壁厚度测量国标已发布。技术与标

一、高校成果：微观自旋与高保真成像双线突破

结论：最近3天，国内高校在微观自旋探测与高保真成像上同步突破，显微能力正从“看得见”迈向“看得细、探得准”。

10月14日，中国科学技术大学陈仙辉院士、王震宇教授团队与国内合作者，将一类量子自旋霍尔绝缘体制备成扫描隧道显微探针，首次实现交错磁体原子尺度自旋成像（来源：科技日报，2026年10月14日）[1]。这一成果把扫描隧道显微镜从形貌观测推进到原子尺度自旋探测。

高保真成像方向同样有进展。华南理工大学韩宇教授参与领导的研究发表于《自然》，面向多孔材料中“如何可靠识别客体分子”这一关键问题，发展出高保真电子显微成像新方法，为沸石、金属有机框架等晶态多孔材料的主客体化学研究提供重要工具（来源：华南理工大学）[3]。华中科技大学袁菁教授、海南大学骆清铭教授团队则在三维超分辨显微成像技术上取得进展，成果以封面文章发表于期刊（来源：国家自然科学基金委员会）[4]。

二、设备端：智能透射电镜与先进相机加持

结论：透射电镜正走向智能化与更高灵敏度，国产与进口设备在成像效率上同步进阶。

由中国科学院大连化学物理研究所邓德会、刘伟团队研发的智能透射电子显微镜系统，已通过中国石油和化学工业联合会组织的科技成果鉴定，专家一致认为该智能透射电镜系统属全球首创、居国际领先地位（来源：中国科学院，2026年6月）[2]。国际端，美国加州大学洛杉矶分校纳米系统研究所为 Spectra 300C 透射电镜加装量子探测器 Merlin T4 相机，实现更快速、更灵敏的纳米成像与分析（来源：CNSI，2026年10月15日）[5]。

三、标准端：微束分析在研标准密集推进

结论：全国微束分析标准化技术委员会（TC38）多项在研标准密集推进，显微检测口径正在加快补全。

TC38 在研计划中，《微束分析聚焦离子束透射电镜试样制备术语》处于征求意见阶段，《微束分析电子探针显微分析校正曲线法测定钢中碳含量》修订项目正在批准，《微束分析扫描电子显微术矿物含量的自动测定方法》正在征求意见（来源：全国标准信息公共服务平台，2026年10月更新）[6]。已发布的 GB/T 47182-2026《微束分析分析电子显微术核壳颗粒壳壁厚度的测量方法》进入现行（来源：全国标准信息公共服务平台）[7]。

计划／标准	名称	状态
TC38 在研	FIB-透射电镜试样制备术语	征求意见中[6]
20250310-T-469	电子探针碳含量校正曲线法	正在批准[6]
GB/T 47182-2026	核壳颗粒壳壁厚度测量方法	已发布[7]

四、对从业者的三点提示

结论：面对成像智能化与标准密集落地，设备厂家、实验室与检测机构宜尽快对齐口径、跟进在研标准。

三点建议：一是检测机构重点关注 TC38 在研标准的征求意见与批准进度，提前参与反馈、对齐测量口径；二是设备厂家对照新发布的微束分析国标补齐性能评估与对标能力，并评估智能透射电镜的落地价值；三是实验室结合原子尺度自旋成像、高保真电子显微等新方法，评估现有设备在制样、灵敏度与通量上的升级空间。

结语

从交错磁体的原子尺度自旋成像，到智能透射电镜的全球首创，再到微束分析新标准的密集落地，微观观察能力正与标准体系同步提速。对显微设备行业的从业者而言，每一项科研突破与标准更新，都是调整技术路线与能力建设的信号，持续跟进方能不错过窗口期。

本期信息来源

《我科学家利用拓扑探针首次实现交错磁体原子尺度自旋成像》，科技日报，2026年10月14日。链接：http://www.stdaily.com/web/gdxw/2026-10/14/content_595956.html
《首套智能透射电子显微镜系统研发成功》，光明日报／中国科学院，2026年6月5日。链接：http://www.cas.cn/cm/202606/t20260605_5111876.shtml
《突破电子显微成像保真度瓶颈我室韩宇教授合作成果发表于Nature》，华南理工大学。链接：https://www2.scut.edu.cn/sklppe/2026/0522/c27628a627596/page.htm
《我国学者在三维超分辨显微成像技术领域取得进展》，国家自然科学基金委员会。链接：https://www.nsfc.gov.cn/p1/3381/2825/139807.html
Transmission electron microscopy gains new capabilities with advanced camera at CNSI，加州大学洛杉矶分校纳米系统研究所，2026年10月15日。链接：https://cnsi.ucla.edu/october-15-2026-transmission-electron-microscopy-gains-new-capabilities-with-advanced-camera-at-cnsi/
《TC38 全国微束分析标准化技术委员会》，全国标准信息公共服务平台，2026年10月更新。链接：https://std.samr.gov.cn/search/orgDetailViewCNF?data_id=DE655CAA7A2F7590E05397BE0A0A893A
GB/T 47182-2026，微束分析分析电子显微术核壳颗粒壳壁厚度的测量方法，全国标准信息公共服务平台。链接：https://std.samr.gov.cn/gb/search/gbDetailed?id=31D62EBFE9404790E06397BE0A0A8AB3

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