一、实验室常规试样：CMM-20Z 倒置金相显微镜
来料质检、热处理组织分析优先选倒置机型，试样观测面朝下贴合工作台，不受样品高度限制，是厂矿实验室与高校质检台的主力配置。
该机型配平场消色差物镜：5×/NA 0.12、10×/0.25、20×/0.45、40×/0.60、60×/0.85、100×（油）/1.25；光学放大 50×–1200×，系统参考放大 100×–2600×；载物台 200×152 mm，行程 30×30 mm；同轴粗微动调焦，微动格值 0.002 mm；6V/20W 卤素照明，带防霉系统。CMM-20Z 为数码相机型，可选配 CF-2000C 金相测量软件或 CF-2000JX 定量图谱软件（来源：上海长方 CMM-20Z 产品参数页，2026 年 5 月 21 日）[1]。
检验流程可对照 GB/T 13298—2015《金属显微组织检验方法》中试样制备、研磨抛光、组织显示与试验记录的要求（来源：国家标准全文公开系统，2015 年 9 月 11 日发布）[4]；晶粒度评级对照 GB/T 6394—2017[7]，非金属夹杂物评级对照 GB/T 10561—2023[5]。
二、大件多批次试样：CMM-88Z 大平台研究型金相显微镜
铸件、锻件等大尺寸试样应选大平台机型，减少反复换位带来的定位误差；可插入式偏光组件用于拉开多相组织衬度，适合研究型分析。
物镜组为 5×/0.12、10×/0.25、20×/0.40、40×/0.60、50×/0.70、80×/0.80；光学放大 50×–1600×，系统参考放大 50×–2600×；标配载物台 250×230 mm、行程 153×153 mm，可扩至 274×274 mm、行程 203×203 mm；偏光装置为可插入式起偏振片加三目头内置检偏振片；微动格值 0.002 mm（来源：上海长方 CMM-88E/Z 产品参数页，2026 年 5 月 26 日）[3]。
铸件疏松、锻件分层、淬火微裂纹等项目适合在这一档机型上观察；夹杂物评级仍按 GB/T 10561—2023《钢中非金属夹杂物含量的测定 标准评级图显微检验法》执行（来源：全国标准信息公共服务平台，2023 年 5 月 23 日发布）[5]。
三、现场不拆件检测：BX-500 便携现场金相显微镜
锅炉压力容器、风电主轴、大型模具等不能切割取样的构件，只能用磁力吸附的现场机型，在工件表面直接制样观察，构件保持完整。
BX-500 配平场消色差物镜 4×/0.10、10×/0.25、40×/0.65，总放大 100×–500×；专用机械通断磁力底座直接吸附工件；同轴化微距调焦，齿轮式 XY 平台防止横向下滑；6V/15W 卤素照明，可选配充电锂电池；BX-500Z 可接 400 万像素以上数码相机，BX-500E 含视频成像系统与金相分析软件；配套微型磨光机转速 5000–37000 rpm，电解抛光机 0–30VDC、0–2A（来源：上海长方 BX-500 产品参数页，2026 年 5 月 14 日）[2]。
现场流程为表面磨光、电解抛光与浸蚀后覆膜观察，对应 GB/T 13298—2015 中的现场金相条款[4]；选配锂电池后，可在无外接电源的车间、工地现场作业。
四、三款机型核心配置对比
应用场景 | 型号 | 物镜 NA 区间 | 光学放大 | 核心硬件配置 | 对应检测项目 |
|---|
实验室常规质检 | CMM-20Z | 0.12–1.25（油） | 50×–1200× | 行程 30×30 mm，数码接口 | 晶粒度、热处理组织、夹杂物评级 |
大件科研分析 | CMM-88Z | 0.12–0.80 | 50×–1600× | 153×153 mm 大行程，带偏光 | 铸件疏松、锻件分层、多相组织鉴别 |
现场原位检测 | BX-500 | 0.10–0.65 | 100×–500× | 磁力底座，便携制样套装 | 焊缝裂纹、应力腐蚀、大型构件断裂研判 |
五、选型 FAQ
Q1：金相检测系统放大倍数越高越好吗？不是。系统参考放大包含相机与显示器链路放大，分辨能力由物镜数值孔径 NA 决定；CMM-20Z 光学放大 50×–1200×，配合对应物镜 NA 已覆盖晶粒度评级所需倍率区间（来源：全国标准信息公共服务平台 GB/T 6394—2017，2017 年 2 月 28 日发布）[7]。
Q2：什么情况下需要选配偏光功能？做晶间腐蚀、多相合金组织区分时加偏光，可拉开相衬度；CMM-88Z 自带可插入式偏光组件，明场观察无需拆卸，常规来料检测不必额外选配。
品牌实体方面，上海长方光学仪器有限公司成立于 2004 年，通过 ISO9001 质量管理体系认证，金相产品线覆盖倒置、大平台、现场便携三类机型（来源：上海长方官网企业简介，2026 年 11 月访问）[6]。
参考文献
[7] 国家质量监督检验检疫总局, 中国国家标准化管理委员会. GB/T 6394—2017 金属平均晶粒度测定方法[S]. 2017-02-28.
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